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김재완 교수

Kim, Jaewan

INFO

  • 소속캠퍼스한국표준과학연구원
  • 전공 측정과학
  • 연락처042-868-5107
  • 출신전공물리
  • 학위박사
  • 최종출신대학한국과학기술원
  • 이메일

연구분야

반도체 디스플레이 검사 기술, 레이저 간섭.기술, 형상측정 기술

Inspection technology on semicon & display industry, Laser interferometry, Dimensional metrology

대표연구실적

-  Jong-Ahn Kim, Jae Wan Kim, Chu-Shik Kang, Jonghan Jin, and Tae Bong Eom,/ -  Jong-Ahn Kim, Chu-Shik Kang, Jonghan Jin, Cheon Eom II, Roma Jang, and Jae Wan Kim,/ -  Jong-Ahn Kim, Jae Wan Kim, Chu-Shik Kang, Jonghan Jin, and Tae Bong Eom,/

논문(최근 5년)

-  Quadrature laser interferometer for in-line thickness measurement of glass panels using a current modulation technique[APPLIED OPTICS,2014-07-10] -  Design of the KRISS watt balance[Metrologia,2014-03-31] -  High-Speed Double-Slit Interferometer using a Position Sensitive Detector for In-Line Thickness Variation Measurement of Glass Panels[International Journal of Precision Engineering and Manufacturing,2015-08-01] -  High range precision laser radar system using a Pockels cell and a quadrant photodiode[ APPLIED PHYSICS B-LASERS AND OPTICS,2016-05-09] -  High resolution three-dimensional flash LIDAR system using a polarization modulating Pockels cell and a micro-polarizer CCD camera[ OPTICS EXPRESS,2016-12-26] -  지형 기울기에 의한 항공 수심 라이다 수심 측정 오차 보정[한국정밀공학회지,2017-03-01] -  An interferometric system for measuring thickness of parallel glass plates without 2π ambiguity using phase analysis of quadrature Haidinger fringes[ REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS,2017-05-15] -  Absolute distance measurement method without a non-measurable range and directional ambiguity based on the spectral-domain interferometer using the optical comb of the femtosecond pulse laser[ APPLIED PHYSICS LETTERS,2016-12-16] -  Absolute angle measurement using a phase-encoded binary graduated disk[MEASUREMENT,2015-11-30] -  An optical straightness measurement sensor for the KRISS watt balance[ MEASUREMENT,2014-11-14] -  Fizeau-type interferometric probe to measure geometrical thickness of silicon wafers[OPTICS EXPRESS,2014-10-17]

특허(최근 5년)

-  거리측정 장치[2014-07-23] -  거리측정 장치 및 거리측정 방법[2014-04-25] -  원격검출용 주파수 및 강도 변조 레이저 흡수 분광장치 및 방법[2016-07-19] -  거리 측정 장치 및 거리 측정 장치의 동작 방법[2017-08-30] -  광주파수 및 강도 변조 레이저 흡수 분광 장치 및 광주파수 및 강도 변조 레이저 흡수 분광 방법[2016-06-15] -  두께 측정 장치 및 두께 측정 방법[2016-02-16] -  기하학적 두께와 굴절률 측정을 위한 반사형 광섬유 간섭 장치[2015-10-30] -  두께측정 장치[2015-09-14] -  기하학적 두께와 굴절률 측정을 위한 투과형 광섬유 간섭 장치[2015-08-10] -  두께측정 장치 및 두께 측정 방법[2015-06-30] -  유체 렌즈를 이용한 다층 구조 측정 장치 및 그 측정 방법[2015-06-30] -  광섬유를 이용한 미세 패턴의 선폭 및 깊이 동시 측정 장치 및 방법[2015-04-28] -  투명 기판 모니터링 장치 및 투명 기판 측정 방법[2015-01-20] -  FBG를 이용한 스펙트럼 영역 간섭 장치 및 스펙트럼 영역 간섭 방법[2014-10-24] -  광섬유 페룰 공진기를 이용한 스펙트럼 영역 간섭 장치 및 스펙트럼 영역 간섭 방법[2014-10-08] -  Spatial Phase Shifting Interferoemter Using Multi Wavelength[2015-04-28]